Micrómetro de Escaneo Láser (Unidad de Medición) - LSM-501S - 544-534
Micrómetro de Escaneo Láser (Unidad de Medición) - LSM-501S - 544-534

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• Proporciona ultra alta exactitud con un error máximo de de ± 0.5μm sobre el todo intervalo de medición (0.05μm hasta 10mm).


• Error del intervalo corto de ±(0.3+0.1 D)μm para mediciones de alta exactitud.


• Ultra alta velocidad de medición de 3200 escaneos/s. Adecuado para líneas de alta velocidad o en aplicaciones sometidas a vibraciones.

Serie 544
Modelo LSM-501S
Estándares de láser aplicados IEC, FDA
Capacidad de medición 0,05 à 10mm
Resolución / Graduación 0,01 a 10 μm (seleccionable)
Repetibilidad ±0,04μm
Exactitud (20°C) A plena capacidad: ± 0.5μm / Pequeñas capacidades: ± (0.3 + 0.1ΔD) μm
Error de posicionamiento ±0,5μm
Rango de medición 2×10mm (ø0,05 à ø0,1mm) 4×10mm (ø0,1 à ø10mm)
Tasa de lectura 3200 lecturas / seg
Longitud de onda láser 650nm (visible)
Velocidad de lectura láser 113m/s
Entorno operativo Temperatura: 0 a 40 ° C / Humedad: HR 35 a 85% (sin condensación)
Nivel de protección IP64

Otras variantes de este producto.

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Código Modelo
544-532 LSM-500S
544-534 LSM-501S
544-536 LSM-503S
544-538 LSM-506S
544-540 LSM-512S
544-542 LSM-516S
Descripción

Micrómetro Láser
Medición sin contacto, de alta velocidad y alta exactitud 
SERIE 544 Micrómetro Láser (Unidad de Medición)
LSM-501S


• Proporciona ultra alta exactitud con un error máximo de de ± 0.5μm sobre el todo intervalo de medición (0.05μm hasta 10mm).


• Error del intervalo corto de ±(0.3+0.1 D)μm para mediciones de alta exactitud.


• Ultra alta velocidad de medición de 3200 escaneos/s. Adecuado para líneas de alta velocidad o en aplicaciones sometidas a vibraciones.